Analisi su materiali refrattari, ceramiche ed affini
- Analisi chimica elementare mediante spettrometria di emissione atomica con sorgente a plasma (ICP-OES)
- Analisi mediante tecniche ai raggi X, fluorescenza (XRF) e diffrazione (XRD) su polveri e residui
- Prove tecnologiche sec. ASTM C113, C133, C134, C20, C704, ISO 5018, UNI EN ISO 1927, API 936
- Analisi granulometriche
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