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Aeromart Toulouse 2022 Microscopia elettronica applicata alla failure analysis 39° Convegno Nazionale AIM Chiusura estiva dall’11 al 26 agosto Corso di microscopia elettronica in scansione Estensione Accredia Click Bond test Corso Metallurgia per non Metallurgisti

Microscopia elettronica applicata alla failure analysis

 

Il successo del microscopio elettronico a scansione è dovuto alla vastità di applicazioni possibili e alle numerose informazioni che può offrire, sia di tipo morfologico che chimico.

La tecnica SEM è ormai essenziale nell’ambito della Failure Analysis e viene utilizzata come base di partenza per la pianificazione di ulteriori indagini di tipo chimico-fisico.

 

Il 23 settembre 2022 a Padova si terrà una giornata di studio nell'ambito del 39° Convegno Nazionale AIM dedicata alle applicazioni della tecnica SEM in ambito metallurgico e in particolare in failure analysis, durante la quale uno dei nostri esperti esporrà una relazione sul tema.

 

Per maggiori dettagli ed iscrizioni: https://www.metallurgia-italiana.net/manifestazione.php?id=729&idc=1

 

 
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Ultima modifica: 15/11/2022